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石墨盤的測(cè)驗(yàn)辦法需環(huán)繞其核心功能指標(biāo)（如純度、機(jī)械強(qiáng)度、熱功能、抗氧化性等）打開，以下從資料剖析、力學(xué)功能、熱學(xué)功能、表面質(zhì)量、抗氧化性五個(gè)維度體系闡明，并給出詳細(xì)測(cè)驗(yàn)辦法與規(guī)范：
一、資料純度與成分剖析
1.灰分測(cè)驗(yàn)（純度評(píng)價(jià)）
辦法：將石墨盤在高溫爐中灼燒至恒重，核算殘留灰分占比。
步驟：
    稱取樣品質(zhì)量（m2）；
    在850-950℃馬弗爐中灼燒至恒重（m2）；
    灰分含量=（m2/m2）×100%。
    規(guī)范：高純石墨灰分一般≤0.05%（500ppm）。
2.雜質(zhì)元素剖析
辦法：
    ICP-OES（電感耦合等離子體發(fā)射光譜）：檢測(cè)金屬雜質(zhì)（如Fe、Cu、Ca等），精度可達(dá)ppb級(jí)。
    CS剖析儀（碳硫剖析）：測(cè)定游離碳、硫含量。
二、力學(xué)功能測(cè)驗(yàn)
1.抗壓強(qiáng)度測(cè)驗(yàn)
    設(shè)備：全能資料試驗(yàn)機(jī)。
辦法：
    將石墨盤切割為規(guī)范試樣（如圓柱體，直徑×高度=20mm×20mm）；
    以1mm/min速率加載至破壞，記載最大載荷（F）；
    抗壓強(qiáng)度=F/(πr2)（r為試樣半徑）。
    規(guī)范：高純石墨抗壓強(qiáng)度一般≥100MPa。
2.抗彎強(qiáng)度測(cè)驗(yàn)（三點(diǎn)彎曲法）
辦法：
    試樣尺度：長(zhǎng)×寬×高=50mm×10mm×5mm；
    跨距30mm，加載速率0.5mm/min；
    抗彎強(qiáng)度=3FL/(2bh2)（F為破壞載荷，L為跨距，b、h為試樣寬高）。
3.彈性模量與泊松比
    辦法：動(dòng)態(tài)共振法或超聲法，經(jīng)過丈量聲速核算彈性參數(shù)。
三、熱學(xué)功能測(cè)驗(yàn)
1.熱導(dǎo)率測(cè)驗(yàn)
激光閃射法（LFA）：
    丈量樣品厚度方向的熱擴(kuò)散系數(shù)（α）；
    結(jié)合比熱容（Cp）和密度（ρ），核算熱導(dǎo)率λ=α×Cp×ρ。
    規(guī)范：高純石墨熱導(dǎo)率可達(dá)100-200W/(m·K)。
2.熱膨脹系數(shù)（CTE）
    辦法：熱機(jī)械剖析儀（TMA），丈量樣品在溫度改變時(shí)的尺度改變率。
    測(cè)驗(yàn)范圍：室溫至1000℃，升溫速率5℃/min。
3.耐熱沖擊功能
辦法：
    將石墨盤加熱至方針溫度（如800℃）；
    快速浸入冷水中，觀察是否開裂；
    重復(fù)屢次，記載失效次數(shù)。
四、表面質(zhì)量與微觀結(jié)構(gòu)
1.表面粗糙度
    設(shè)備：輪廓儀或白光干涉儀。
    規(guī)范：加工面粗糙度Ra≤1.6μm，燒結(jié)面Ra≤3.2μm。
2.孔隙率測(cè)定
辦法：
    壓汞法：丈量孔隙體積占比；
    圖像剖析法：經(jīng)過SEM掃描電鏡核算孔隙面積占比。
3.微觀結(jié)構(gòu)觀察
    設(shè)備：SEM（掃描電鏡）、XRD（X射線衍射）。
    目的：剖析晶粒尺度、取向及雜質(zhì)散布。
五、抗氧化功能測(cè)驗(yàn)
1.靜態(tài)氧化實(shí)驗(yàn)
辦法：
    將石墨盤置于箱式爐中，通入空氣或氧氣；
    以5℃/min升溫至方針溫度（如600℃），保溫一定時(shí)間；
稱重核算氧化失重率。
2.動(dòng)態(tài)氧化實(shí)驗(yàn)
    辦法：熱重剖析儀（TGA），實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)樣品在升溫過程中的質(zhì)量改變。
六、其他要害測(cè)驗(yàn)
1.電阻率測(cè)驗(yàn)
    辦法：四探針法，丈量體積電阻率（一般≤10μΩ·m）。
2.耐腐蝕性測(cè)驗(yàn)
    辦法：將石墨盤浸泡在酸/堿溶液中（如10% HCl或NaOH），72小時(shí)后稱重核算腐蝕率。
測(cè)驗(yàn)規(guī)范參考
    國(guó)際規(guī)范：ASTM C747（石墨純度）、ISO 18754（熱導(dǎo)率）。
    國(guó)家規(guī)范：GB/T 24528（炭素資料體積密度）、GB/T 3074.4（石墨抗折強(qiáng)度）。
    行業(yè)規(guī)范：SEMI規(guī)范（半導(dǎo)體用石墨）、YB/T 5213（耐火資料）。
總結(jié)與主張
    測(cè)驗(yàn)優(yōu)先級(jí)：根據(jù)應(yīng)用場(chǎng)景選擇要害指標(biāo)（如半導(dǎo)體領(lǐng)域偏重純度與熱導(dǎo)率，冶金領(lǐng)域偏重強(qiáng)度與抗氧化性）。
    第三方檢測(cè)：關(guān)于高精度要求，主張托付CNAS認(rèn)證實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行測(cè)驗(yàn)。
    數(shù)據(jù)比照：測(cè)驗(yàn)成果需與供應(yīng)商供給的資料證書（COA）比對(duì)，確保一致性。
    經(jīng)過上述測(cè)驗(yàn)辦法，可全面評(píng)價(jià)石墨盤的功能，為選型、質(zhì)量控制及工藝優(yōu)化供給依據(jù)。